混合IC測試系統有效降低測試成本

credence推出的sapphire d-10是為滿足 消費電子產品市場的低成本測試需求而設計的混合信號ic測試系統。sapphire d-10是一個高產能、多功能的圓片和封裝測試解決方案，該方案是為微控制器、無線基帶、顯示驅動器和消費類混合信號器件的低成本測試解決方案而特別設計的。它具有集成度高、體積小、模塊化、較高的并行測試能力等特點。 緊湊、高集成的設計平衡成本和性能——sapphire d-10體積小巧，比一臺中型個人電腦大不了多少，它不需要任何復雜的固定器械和環境設施，把它支起來，插上電源就能馬上使用，因而具有很好的便攜性，同一平臺既能應用于桌面的調試開發和特性分析，也能應用于量產測試。sapphire d-10含有高密度和高效的數字、模擬和電源通道。它支持768個數字通道和16個電源通道。同時其集成的混和信號技術在同一儀器上就能提供應對高精度和高頻率的方法。對于大范圍的產品測試來說，一個寬頻、高效的設備能有效降低測試成本。在多種芯片需要同時被測試的情況下，采用一款這樣的系統能大大節省用戶的測試成本。高密度數字儀器、多頻段混和信號儀器也使得測試系統的配置簡化，因為需要更少的儀器來達到需要的測試能力。高集成的設備也更簡化了負載板、docking接口和manipulator接口的設計。高集成度同時也能大幅減少設計時需要的元件，最終降低測試平臺的成本。而且，更少的元件意味著更高的穩定性和更短的停機時間，從而進一步降低客戶總的測試成本。并行測試能力加速高量產測試——并行測試是通過同時測試多個芯片來降低測試成本的有效方法。sapphire d-10最多能進行256個芯片同測。而且非常適合多site圓片測試，因為它能提供768個200mbps的數字通道和高集成度的模擬和數模混合儀器。許多傳統的測試系統在測試數字器件時能提供較高的并行效率，但測試模擬和混合信號器件時會大大降低。這通常是由于本地或遠程的大量的數據傳送處理而造成的。sapphire d-10的交換式數據傳輸（switched data link）專為解決這個問題而設計，它能快速地傳送大的數據包，并高效地進行處理。采用業界標準的模塊化架構具有很大靈活性——可再配置的sapphire d-10測試系統能靈活應對多種類產品測試，優化使用工廠或實驗室空間。擁有十個可互換的儀器插槽，開放式結構支持即插即用(plug and play)以及通用插槽功能，使得從工程應用到產品并行測試或從數字到混和信號應用非常易于拓展。該系統的儀器都兼容cpci 背板協議，因而具有很大的靈活性。基于這個開放式的架構，用戶能方便使用第三方成熟儀器定制自己的配置，進一步拓展了平臺的靈活性和生命周期。同時，用戶可通過集成自定制儀器到平臺中來實現一些特殊功能和特性分析測試的需求。此外，sapphire d-10具有高速的底層數據交換網絡，使數據能夠以500m字節/秒的速度在整個系統內傳輸，同時又不明顯增加主機負擔。sapphire d-10還有一整套為測試程序開發、調試、產品特性分析以及量產而設計的專用軟件。它的軟件采用開放式結構，很容易訪問底層代碼，方便自定制程序編寫。d-10有自帶的產品測試界面，但同時也允許客戶和現場人員設計自己的界面，在工廠進行無縫連接。